Детальная информация

Способ измерения толщины тонких пленок, нанесенных на подложку / Альперович Л. И.; заявитель: Таджикский государственный университет им. В. И. Ленина // Описания изобретений (ретрофонд) / Комитет по патентам и товарным знакам России. – М., 2003. – 1987, № 1 — файл: 146 Кб: ил. — (Патенты России). — Загл. с титул. экрана. — Поисковая система: MIMOSA GTI. — Систем. требования: Acrobat Reader. — Режим доступа: ftp://smolensklib.ru/bd/patent_ru/pt1280311.pdf. — <URL:ftp://smolensklib.ru/bd/patent_ru/pt1280311.pdf>.

Дата создания записи: 24.05.2023

Тематика: Измерительная техника — Измерительные устройства

Коллекции: Патенты России

Разрешенные действия:

Действие 'Прочитать' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети Действие «Прочитать» доступно только читателям библиотеки. Для авторизации используйте идентификатор и пароль читателя, полученные при записи в ГБУК "Смоленская областная универсальная научная библиотека имени А. Т. Твардовского". Для удалённой регистрации, необходимо на адрес smolreg2021@mail.ru отправить письмо со следующей информацией: ФИО, год рождения, образование, род деятельности, город проживания.

Группа: Анонимные пользователи

Сеть: Интернет

Аннотация

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины пленок, прозрачных в инфракрасной области спектра и нанесенных на плоские подложки. Цель изобретения - повышение точности измерений путем повышения контраста интерференционной картины в результате выравнивания разностей показателей преломления сред, от границ раздела которых отражаются интерферирующие пучки.

Права на использование объекта хранения

Место доступа Группа пользователей Действие
Локальная сеть СОУНБ Все Прочитать
Интернет Читатели Прочитать

Статистика использования

stat Количество обращений: 0
За последние 30 дней: 0
Подробная статистика