| Card | Table | RUSMARC | |
|
|
Гониометрическая приставка для деформирования объекта в электронном микроскопе / Веркин Б. И., Чернецкий В. К., Лаврентьев Ф. Ф. [и др.]; заявитель: Физико-технический институт низких температур АН УССР // Описания изобретений (ретрофонд) / Комитет по патентам и товарным знакам России. – М., 2003. – 1986, № 1. — (Патенты России). — Загл. с титул. экрана. — Поисковая система: ИПС MIMOSA GTI. — Систем. требования: Acrobat Reader. — Режим доступа: ftp://smolensklib.ru/bd/patent_ru/pt1205207.pdf. — <URL:ftp://smolensklib.ru/bd/patent_ru/pt1205207.pdf>.Record create date: 8/16/2025 Subject: Электронной микроскопии — Исследования кинематики — Пластическая деформация — Электронный микроскоп Collections: Патенты России Allowed Actions: –
Action 'Read' will be available if you login or access site from another network
Действие «Прочитать» доступно только читателям библиотеки. Для авторизации используйте идентификатор и пароль читателя, полученные при записи в ГБУК "Смоленская областная универсальная научная библиотека имени А. Т. Твардовского". Для удалённой регистрации, необходимо на адрес smolreg2021@mail.ru отправить письмо со следующей информацией: ФИО, год рождения, образование, род деятельности, город проживания.
Group: Anonymous Network: Internet |
Annotation
Изобретение относится к электронной микроскопии и может быть использовано при исследованиях кинематики и динамики процессов пластической деформации и фазовых превращений при низких температурах непосредственно при деформировании в колонне электронного микроскопа с вертикальными входом исследуемого объекта. Цепь изобретения - расширение функциональных возможностей устройства за счет совмещения силового нагружения с охлаждением объекта.
Document access rights
| Network | User group | Action | ||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| SOUNB Local Network | All |
|
||||
| Internet | Readers |
|
Usage statistics
|
|
Access count: 0
Last 30 days: 0 Detailed usage statistics |