Описание изобретений (ретрофонд) / Комитет по патентам и товарным знакам России. — М., 1994-____. — (Патенты России).
Способ измерения параметров области полупроводникового слоя / Смирнов В. И., Панасюк В. Н.,Овчаренко Е. Н., Гулидов Д. Н. — 1 файл: 247 Кб: ил. — Загл. с титул. экрана. — Поисковая система: ИПС MIMOSA GTI. — Систем. требования: Acrobat Reader. — Режим доступа: ftp://smolensklib.ru/bd/patent_ru/pt1068847.pdf. — <URL:ftp://smolensklib.ru/bd/patent_ru/pt1068847.pdf>.
| Период
|
Чтение
|
Печать
|
Копирование
|
Открытие
|
Итого
|
|
Последний день
|
0
|
0
|
0
|
0
|
0
|
|
Последние 30 дней
|
0
|
0
|
0
|
0
|
0
|
|
Последние 365 дней
|
0
|
0
|
0
|
0
|
0
|
|
За все время
|
0
|
0
|
0
|
0
|
0
|
