Способ измерения штарковской ширины линии в плазме / Ахмеджанов Р. А., Полушкин И. Н., Ханин Я. И., Язенков В. В.; заявитель: Институт прикладной физики АН СССР // Описания изобретений (ретрофонд) / Комитет по патентам и товарным знакам России. – М., 2003. – 1984, № 1 — 1 файл: 262 Кб: ил. — (Патенты России). — Загл. с титул. экрана. — Поисковая система: ИПС MIMOSA GTI. — Систем. требования: Acrobat Reader. — Режим доступа: ftp://smolensklib.ru/bd/patent_ru/1067930.pdf. — <URL:ftp://smolensklib.ru/bd/patent_ru/pt1067930.pdf>.